1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79182
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorBystrov, V. S.en
dc.contributor.authorCoutinho, J.en
dc.contributor.authorAvakyan, L. F.en
dc.contributor.authorBystrova, A. V.en
dc.contributor.authorParamonova, E. V.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:21Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:21Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationPiezoelectric, ferroelectric, optoelectronic and photo-catalytic phenomena from defect levels in hydroxyapatite by first-principles / V. S. Bystrov, J. Coutinho, L. F. Avakyan, A. V. Bystrova, E. V. Paramonova // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 51-52.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79182-
dc.description.sponsorshipThe authors thank the Russian Foundation for Basic Researches (RFBR grant 19-01-00519 A) and to the Fundação para a Ciência e a Tecnologia (FCT) through project UID/CTM/50025/2013.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titlePiezoelectric, ferroelectric, optoelectronic and photo-catalytic phenomena from defect levels in hydroxyapatite by first-principlesen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage51-
local.description.lastpage52-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_041.pdf476,2 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.