1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79174
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorLou, Q.en
dc.contributor.authorZeng, J.en
dc.contributor.authorZheng, L.en
dc.contributor.authorMan, Zh.en
dc.contributor.authorWang, W.en
dc.contributor.authorKassiba, A.en
dc.contributor.authorPark, C. H.en
dc.contributor.authorPolitova, E. D.en
dc.contributor.authorLi, G.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:20Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:20Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationDefects on the ferroelectric and photocatalytic properties of La3+ ions doped SrBi2Nb2O9 materials / Q. Lou, J. Zeng, L. Zheng, Zh. Man, W. Wang, A. Kassiba, C. H. Park, E. D. Politova, G. Li // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 43.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79174-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleDefects on the ferroelectric and photocatalytic properties of La3+ ions doped SrBi2Nb2O9 materialsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage43-
local.description.lastpage43-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_034.pdf137,46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.