Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79148
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Vlasov, E. O. | en |
dc.contributor.author | Chezganov, D. S. | en |
dc.contributor.author | Pashnina, E. A. | en |
dc.contributor.author | Chuvakova, M. A. | en |
dc.contributor.author | Esin, A. A. | en |
dc.contributor.author | Greshnyakov, E. D. | en |
dc.contributor.author | Shur, V. Ya. | en |
dc.contributor.author | Шур, В. Я. | ru |
dc.date.accessioned | 2019-12-19T12:26:17Z | - |
dc.date.available | 2019-12-19T12:26:17Z | - |
dc.date.issued | 2019 | - |
dc.identifier.citation | Domain structure formation by electron beam irradiation in lithium niobate and lithium tantalate crystals at elevated temperatures / E. O. Vlasov, D. S. Chezganov, E. A. Pashnina, M. A. Chuvakova, A. A. Esin, E. D. Greshnyakov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 283. | en |
dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-2-1 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79148 | - |
dc.description.sponsorship | The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used. The research was made possible by the Russian Science Foundation (Grant № 17-72-10152). | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | Ural Federal University | en |
dc.relation | info:eu-repo/grantAgreement/RSF//17-72-10152 | en |
dc.relation.ispartof | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 | en |
dc.title | Domain structure formation by electron beam irradiation in lithium niobate and lithium tantalate crystals at elevated temperatures | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.conference.name | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" | en |
dc.conference.date | 25.08.2019-28.08.2019 | - |
local.description.firstpage | 283 | - |
local.description.lastpage | 283 | - |
local.fund.rsf | 17-72-10152 | - |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-2-1_2019_227.pdf | 308,45 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.