Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79146
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorVasilev, S.en
dc.contributor.authorVasileva, D.en
dc.contributor.authorLuneva, O.en
dc.contributor.authorVodyakshin, A.en
dc.contributor.authorChezganov, D.en
dc.contributor.authorYuzhakov, V.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorSkorb, E.en
dc.contributor.authorVinogradov, A.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:17Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:17Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationSemi-contact AFM for surface characterisation in case of holographic PDADMAC films and functionalised paper / S. Vasilev, D. Vasileva, O. Luneva, A. Vodyakshin, D. Chezganov, V. Yuzhakov, V. Ya. Shur, E. Skorb, A. Vinogradov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 280.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79146-
dc.description.sponsorshipThe research was carried out using equipment of the Ural Center for Shared Use "Modern Nanotechnologies" Ural Federal University. A. Vinogradov acknowledges the scholarship of the President of the Russian Federation (SP-1158.2019.1): S. Vasilev acknowledges the mobility programs of the Institute of Natural Sciences and Mathematics for the Young scientists in the 2018 year.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleSemi-contact AFM for surface characterisation in case of holographic PDADMAC films and functionalised paperen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage280-
local.description.lastpage280-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_225.pdf245,62 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.