Investigation of forming-free resistive switching of nanocrystalline hafnium oxide thin films

Tominov, R. V.; Avilov, V. I.; Dukhan, D. D.; Smirnov, V. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79142

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Tominov, R. V.	en
dc.contributor.author	Avilov, V. I.	en
dc.contributor.author	Dukhan, D. D.	en
dc.contributor.author	Smirnov, V. A.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:17Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:17Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Tominov R. V. Investigation of forming-free resistive switching of nanocrystalline hafnium oxide thin films / R. V. Tominov, V. I. Avilov, D. D. Dukhan, V. A. Smirnov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 275-276.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79142	-
dc.description.sponsorship	This work was supported by Grant of the President of the Russian Federation № MK-2721.2018.8 and RFBR (№ 18-37-00299 mol_а project). The results were obtained using the equipment of the Research and Education Center and Center for Collective Use "Nanotechnologies" of Southern Federal University.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Investigation of forming-free resistive switching of nanocrystalline hafnium oxide thin films	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	275	-
local.description.lastpage	276	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_221.pdf		518,46 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.