Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79138
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTang, Z.en
dc.contributor.authorZhuang, J.en
dc.contributor.authorFu, Y.en
dc.contributor.authorBokov, A. A.en
dc.contributor.authorZhang, N.en
dc.contributor.authorZhang, J.en
dc.contributor.authorRen, W.en
dc.contributor.authorYe, Z. -G.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:16Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:16Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationThe growth, domain structures, electrical and magnetic properties of BiFeO3-PbTiO3 single crystals / Z. Tang, J. Zhuang, Y. Fu, A. A. Bokov, N. Zhang, J. Zhang, W. Ren, Z. -G. Ye // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 271.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79138-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleThe growth, domain structures, electrical and magnetic properties of BiFeO3-PbTiO3 single crystalsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage271-
local.description.lastpage271-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_218.pdf191,61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.