1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79133
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorShkalei, I. V.en
dc.contributor.authorShcherbakova, O. O.en
dc.contributor.authorLapitskaya, V. A.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:15Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:15Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationShkalei I. V. Study of economically alloyed aluminum alloys by SEM and SPM / I. V. Shkalei, O. O. Shcherbakova, V. A. Lapitskaya // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 263-264.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79133-
dc.description.sponsorshipThis work was financially supported by the Russian Foundation for Basic Research (projects nos. 18-38-00289) (sample preparation) and partially supported by Grant of President of RF (MK-871.2018.8 No-AAAA-A18-118080290023-0) (microscopy investigations).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleStudy of economically alloyed aluminum alloys by SEM and SPMen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage263-
local.description.lastpage264-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_213.pdf430,4 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.