ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79131| Название: | Local polarization reversal in relaxor SBN single crystals by electron and ion beam irradiation |
| Авторы: | Shikhova, V. A. Fedorovykh, V. V. Chezganov, D. S. Vlasov, E. O. Zelenovskiy, P. S. Greshnyakov, E. D. Nebogatikov, M. S. Anikin, V. A. Kholkin, A. L. Ivleva, L. V. Shur, V. Ya. Шур, В. Я. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Local polarization reversal in relaxor SBN single crystals by electron and ion beam irradiation / V. A. Shikhova, V. V. Fedorovykh, D. S. Chezganov, E. O. Vlasov, P. S. Zelenovskiy, E. D. Greshnyakov, M. S. Nebogatikov, V. A. Anikin, A. L. Kholkin, L. V. Ivleva, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 261. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79131 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Сведения о поддержке: | The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” UrFU was used. The research was made possible by the Russian Science Foundation (grant № 19-72-00008). |
| Карточка проекта РНФ: | 19-72-00008 |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_211.pdf | 158,67 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.