Application of magnetic force microscopy to observe relaxation transformations of the magnetic structure of the ferromagnetic single crystals surface

Semenova, E. M.; Lyakhova, M. B.; Sinkevich, A. I.; Karpenkov, A. Yu.; Pastushenkov, Yu. G.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79122

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Semenova, E. M.	en
dc.contributor.author	Lyakhova, M. B.	en
dc.contributor.author	Sinkevich, A. I.	en
dc.contributor.author	Karpenkov, A. Yu.	en
dc.contributor.author	Pastushenkov, Yu. G.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Application of magnetic force microscopy to observe relaxation transformations of the magnetic structure of the ferromagnetic single crystals surface / E. M. Semenova, M. B. Lyakhova, A. I. Sinkevich, A. Yu. Karpenkov, Yu. G. Pastushenkov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 250.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79122	-
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Application of magnetic force microscopy to observe relaxation transformations of the magnetic structure of the ferromagnetic single crystals surface	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	250	-
local.description.lastpage	250	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_203.pdf		279,15 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.