Atomic force microscopy in the model’s development of polymeric functional materials formation on inert supports

Sazanova, T. S.; Otvagina, K. V.; Rassadin, A. E.; Fomin, L. A.; Vorotyntsev, I. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79121

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Sazanova, T. S.	en
dc.contributor.author	Otvagina, K. V.	en
dc.contributor.author	Rassadin, A. E.	en
dc.contributor.author	Fomin, L. A.	en
dc.contributor.author	Vorotyntsev, I. V.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:14Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Atomic force microscopy in the model’s development of polymeric functional materials formation on inert supports / T. S. Sazanova, K. V. Otvagina, A. E. Rassadin, L. A. Fomin, I. V. Vorotyntsev // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 248-249.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79121	-
dc.description.sponsorship	This work was supported by the RFBR (project No. 18-08-01356 A).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Atomic force microscopy in the model’s development of polymeric functional materials formation on inert supports	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	248	-
local.description.lastpage	249	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_202.pdf		264,5 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.