1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79120
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSaveliev, E. D.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorChezganov, D. S.en
dc.contributor.authorChuvakova, M. A.en
dc.contributor.authorMatveeva, E. D.en
dc.contributor.authorLobov, A. I.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:14Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:14Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationCorrelation of wall velocity and tip curvature radius of dendrite domain in lithium niobate / E. D. Saveliev, A. R. Akhmatkhanov, D. S. Chezganov, M. A. Chuvakova, E. D. Matveeva, A. I. Lobov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 247.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79120-
dc.description.sponsorshipThe research was made possible by Russian Science Foundation (Project № 19-12-00210). The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//19-12-00210en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleCorrelation of wall velocity and tip curvature radius of dendrite domain in lithium niobateen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage247-
local.description.lastpage247-
local.fund.rsf19-12-00210-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_201.pdf182,06 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.