1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79108
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorRaevskaya, S. I.en
dc.contributor.authorGusev, A. A.en
dc.contributor.authorIsupov, V. P.en
dc.contributor.authorRaevski, I. P.en
dc.contributor.authorKubrin, S. P.en
dc.contributor.authorTitov, V. V.en
dc.contributor.authorBunina, O. A.en
dc.contributor.authorMalitskaya, M. A.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:12Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:12Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationDielectric properties of PbMg1/3Nb2/3O3 - PbTiO3 and BaNb2O6-SrNb2O6 solid solution ceramics sintered from mechanochemically synthesized nanopowders / S. I. Raevskaya, A. A. Gusev, V. P. Isupov, I. P. Raevski, S. P. Kubrin, V. V. Titov, O. A. Bunina, M. A. Malitskaya // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 234.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79108-
dc.description.sponsorshipThis work was supported in part by RFBR (project 17-03-01293_a) and by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (research project 3.1649.2017/4.6).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleDielectric properties of PbMg1/3Nb2/3O3 - PbTiO3 and BaNb2O6-SrNb2O6 solid solution ceramics sintered from mechanochemically synthesized nanopowdersen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage234-
local.description.lastpage234-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_191.pdf331,69 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.