1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79107
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorRaevskaya, S. I.en
dc.contributor.authorKubrin, S. P.en
dc.contributor.authorJian Zhuangen
dc.contributor.authorRaevski, I. P.en
dc.contributor.authorMalitskaya, M. A.en
dc.contributor.authorZakharchenko, I. N.en
dc.contributor.authorTitov, V. V.en
dc.contributor.authorSmotrakov, V. G.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:12Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:12Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationMossbauer study of cation substitution effect on the magnetic phase transition temperature of 0.5AFeO3-0.5NaNbO3 (A = Bi, La) solid solutions / S. I. Raevskaya, S. P. Kubrin, Jian Zhuang, I. P. Raevski, M. A. Malitskaya, I. N. Zakharchenko, V. V. Titov, V. G. Smotrakov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 233.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79107-
dc.description.sponsorshipThis work was supported in part by RFBR project 19-52-53030 GFEN_a and by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (research projects 3.1649.2017/4.6 and 3.5346.2017/BP).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleMossbauer study of cation substitution effect on the magnetic phase transition temperature of 0.5AFeO3-0.5NaNbO3 (A = Bi, La) solid solutionsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage233-
local.description.lastpage233-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_190.pdf378,8 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.