Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79102
Название: | Structural, electronic and magnetic properties of ferroelectric/dielectric heterostructures |
Авторы: | Lysogorskiy, Yu. V. Piyanzina, I. I. Bannikov, M. I. Pavlov, D. P. Leontyev, A. V. Gilmutdinov, I. F. Yusupov, R. V. Mamin, R. F. Tayurskii, D. A. Kabanov, V. V. |
Дата публикации: | 2019 |
Издатель: | Ural Federal University |
Библиографическое описание: | Structural, electronic and magnetic properties of ferroelectric/dielectric heterostructures / Yu. V. Lysogorskiy, I. I. Piyanzina, M. I. Bannikov, D. P. Pavlov, A. V. Leontyev, I. F. Gilmutdinov, R. V. Yusupov, R. F. Mamin, D. A. Tayurskii, V. V. Kabanov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 229. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79102 |
Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
Сведения о поддержке: | The reported study was funded by Russian Scientific Foundation according to the research project No. 18-12-00260. The work is partially performed according to the Russian Government Program of Competitive Growth of Kazan Federal University. |
Карточка проекта РНФ: | 18-12-00260 |
Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-2-1_2019_186.pdf | 13,65 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.