Ab initio insight into the electronic properties of heterointerfaces composed of nonpolar ferroelectric oxides

Piyanzina, I. I.; Pavlov, D. P.; Zagidullin, R. R.; Kamashev, A. A.; Tayurskii, D. A.; Mamin, P. F.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79100

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Piyanzina, I. I.	en
dc.contributor.author	Pavlov, D. P.	en
dc.contributor.author	Zagidullin, R. R.	en
dc.contributor.author	Kamashev, A. A.	en
dc.contributor.author	Tayurskii, D. A.	en
dc.contributor.author	Mamin, P. F.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:11Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:11Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Ab initio insight into the electronic properties of heterointerfaces composed of nonpolar ferroelectric oxides / I. I. Piyanzina, D. P. Pavlov, R. R. Zagidullin, A. A. Kamashev, D. A. Tayurskii, P. F. Mamin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 227.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79100	-
dc.description.sponsorship	The reported study was funded by RFBR according to the research project № 18-32-00595. The research is carried out using the equipment of the shared research facilities of HPC computing resources at Lomonosov Moscow State University.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Ab initio insight into the electronic properties of heterointerfaces composed of nonpolar ferroelectric oxides	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	227	-
local.description.lastpage	227	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_184.pdf		157,65 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.