1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79080
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMiruschenko, M. D.en
dc.contributor.authorDonchenko, I. A.en
dc.contributor.authorYorshin, V. A.en
dc.contributor.authorBunin, M. A.en
dc.contributor.authorPavlenko, A. V.en
dc.contributor.authorStryukov, D. V.en
dc.contributor.authorKiseleva, L. I.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:09Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:09Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationThe surface piezoresponce and electric potential of the c-oriented Sr0.5Ba0.5Nb2O6/Pt/Al2O3 thin films / M. D. Miruschenko, I. A. Donchenko, V. A. Yorshin, M. A. Bunin, A. V. Pavlenko, D. V. Stryukov, L. I. Kiseleva // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 205.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79080-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (research projects No. 3.1649.2017/4.6 and No. 3.6439.2017).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleThe surface piezoresponce and electric potential of the c-oriented Sr0.5Ba0.5Nb2O6/Pt/Al2O3 thin filmsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage205-
local.description.lastpage205-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_166.pdf14,39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.