1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79077
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorShaposhnikov, A. N.en
dc.contributor.authorLyashko, S. D.en
dc.contributor.authorNedviga, A. S.en
dc.contributor.authorKaravainikov, A. V.en
dc.contributor.authorSemuk, E. Yu.en
dc.contributor.authorVysokikh, Yu. E.en
dc.contributor.authorMikhailova, T. V.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationScanning probe microscopy investigation of iron garnet films for magnetoplasmonics / A. N. Shaposhnikov, S. D. Lyashko, A. S. Nedviga, A. V. Karavainikov, E. Yu. Semuk, Yu. E. Vysokikh, T. V. Mikhailova // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 201.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79077-
dc.description.sponsorshipResearch performed by grant of Russian Science Foundation (project no. 19-72-20154).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//19-72-20154en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleScanning probe microscopy investigation of iron garnet films for magnetoplasmonicsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage201-
local.description.lastpage201-
local.fund.rsf19-72-20154-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_163.pdf355,93 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.