Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79071
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorPavlov, D. P.en
dc.contributor.authorGarig’yanov, N. N.en
dc.contributor.authorLeontyev, A. V.en
dc.contributor.authorSalikhov, T. M.en
dc.contributor.authorKabanov, V. V.en
dc.contributor.authorMamin, R. F.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:08Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationInvestigation of high conductivity area at the interface between Ba0.8Sr0.2TiO3 and LaMnO3 after effect of electric field on Ba0.8Sr0.2TiO3 ferroelectric film / D. P. Pavlov, N. N. Garig’yanov, A. V. Leontyev, T. M. Salikhov, V. V. Kabanov, R. F. Mamin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 196.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79071-
dc.description.sponsorshipThe reported study was funded by Russian Scientific Foundation, research project No. 18-12-00260.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//18-12-00260en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleInvestigation of high conductivity area at the interface between Ba0.8Sr0.2TiO3 and LaMnO3 after effect of electric field on Ba0.8Sr0.2TiO3 ferroelectric filmen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage196-
local.description.lastpage196-
local.fund.rsf18-12-00260-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_158.pdf157,05 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.