Study of electrical properties of Ni-phyllosilicate nanoscrolls with reduced Ni nanoparticles

Kunkel, T. S.; Krasilin, A. A.; Straumal, E. A.; Nomine, A.; Ghanbaja, J.; Ankudinov, A. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79065

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Kunkel, T. S.	en
dc.contributor.author	Krasilin, A. A.	en
dc.contributor.author	Straumal, E. A.	en
dc.contributor.author	Nomine, A.	en
dc.contributor.author	Ghanbaja, J.	en
dc.contributor.author	Ankudinov, A. V.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:07Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:07Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Study of electrical properties of Ni-phyllosilicate nanoscrolls with reduced Ni nanoparticles / T. S. Kunkel, A. A. Krasilin, E. A. Straumal, A. Nomine, J. Ghanbaja, A. V. Ankudinov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 189-190.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79065	-
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Study of electrical properties of Ni-phyllosilicate nanoscrolls with reduced Ni nanoparticles	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	189	-
local.description.lastpage	190	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_152.pdf		708,95 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.