Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79064
Название: Raman scattering study of SrTiO3: Bi ceramics with higher (x = 0.16) bismuth content
Авторы: Krylova, S. N.
Vtyurin, A. N.
Krylov, A. S.
Wei, X.
Chen, W.
Дата публикации: 2019
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Raman scattering study of SrTiO3: Bi ceramics with higher (x = 0.16) bismuth content / S. N. Krylova, A. N. Vtyurin, A. S. Krylov, X. Wei, W. Chen // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 188.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79064
Конференция/семинар: 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 25.08.2019-28.08.2019
ISBN: 978-5-9500624-2-1
Источники: Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_151.pdf444,62 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.