Dependence of pyroelectric response on inter-electrode capacitance for integrated-optical circuits utilizing x-cut LiNbO3 chips

Kostritskii, S. M.; Yatsenko, A. V.; Korkishko, Yu. N.; Fedorov, V. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79056

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Kostritskii, S. M.	en
dc.contributor.author	Yatsenko, A. V.	en
dc.contributor.author	Korkishko, Yu. N.	en
dc.contributor.author	Fedorov, V. A.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:06Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:06Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Kostritskii S. M. Dependence of pyroelectric response on inter-electrode capacitance for integrated-optical circuits utilizing x-cut LiNbO3 chips / S. M. Kostritskii, A. V. Yatsenko, Yu. N. Korkishko, V. A. Fedorov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 180-181.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79056	-
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Dependence of pyroelectric response on inter-electrode capacitance for integrated-optical circuits utilizing x-cut LiNbO3 chips	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	180	-
local.description.lastpage	181	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_144.pdf		380,35 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.