Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79055
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorKorsakova, E. A.en
dc.contributor.authorMarkham, S.en
dc.contributor.authorMani, A. A.en
dc.contributor.authorKorsakov, A. S.en
dc.contributor.authorZhukova, L. V.en
dc.contributor.authorSilien, C.en
dc.contributor.authorBauer, J.en
dc.contributor.authorTofail, S. A. M.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:06Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:06Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationMultimodal characterization of broadband, polycrystalline silver halide fibre bundle for confocal laser scanning microscopy in the near-mid infrared spectra / E. A. Korsakova, S. Markham, A. A. Mani, A. S. Korsakov, L. V. Zhukova, C. Silien, J. Bauer, S. A. M. Tofail // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 179.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79055-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by the Russian Science Foundation under grant No. 18-73-11063.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//18-73-11063en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleMultimodal characterization of broadband, polycrystalline silver halide fibre bundle for confocal laser scanning microscopy in the near-mid infrared spectraen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage179-
local.description.lastpage179-
local.fund.rsf18-73-11063-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_143.pdf157,11 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.