Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79053
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorUshakov, A.en
dc.contributor.authorKosobokov, M.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A.en
dc.contributor.authorKravchenko, I.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorKholkin, A. L.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:05Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:05Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationPiezoelectric actuation of graphene-based polar structures: frequency and geometry effects / A. Ushakov, M. Kosobokov, A. Akhmatkhanov, I. Kravchenko, V. Ya. Shur, A. L. Kholkin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 176.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79053-
dc.description.sponsorshipThe work was financially supported by the Russian Foundation for Basic Research within the project 16-29-14050 ofr. The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” of UrFU was used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titlePiezoelectric actuation of graphene-based polar structures: frequency and geometry effectsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage176-
local.description.lastpage176-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_141.pdf281,67 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.