Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79044
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorIli’na, M. V.en
dc.contributor.authorGuryanov, A. V.en
dc.contributor.authorIl’in, O. I.en
dc.contributor.authorVakulov, Z. E.en
dc.contributor.authorFedotov, A. A.en
dc.contributor.authorAgeev, O. A.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:04Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:04Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationStudy of the electromechanical properties of aligned carbon nanotubes coated with ZnO using atomic force microscopy / M. V. Ili’na, A. V. Guryanov, O. I. Il’in, Z. E. Vakulov, A. A. Fedotov, O. A. Ageev // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 167-168.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79044-
dc.description.sponsorshipThe reported study was funded by RFBR according to the research projects No. 18-32-00652 mol_a, No.18-29-11019 mk and by grant of the Southern Federal University (project No. VnGr-07/2017-26).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleStudy of the electromechanical properties of aligned carbon nanotubes coated with ZnO using atomic force microscopyen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage167-
local.description.lastpage168-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_133.pdf320,5 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.