Uncertainty of tunneling microscopy measurements of the field emission from multilayer nanostructures

Panfilova, E. V.; Syritskii, A. B.; Ibragimov, A. R.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79042

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Panfilova, E. V.	en
dc.contributor.author	Syritskii, A. B.	en
dc.contributor.author	Ibragimov, A. R.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:04Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:04Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Panfilova E. V. Uncertainty of tunneling microscopy measurements of the field emission from multilayer nanostructures / E. V. Panfilova, A. B. Syritskii, A. R. Ibragimov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 165.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79042	-
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Uncertainty of tunneling microscopy measurements of the field emission from multilayer nanostructures	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	165	-
local.description.lastpage	165	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_131.pdf		194,27 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.