Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79038
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorGuryanov, A. V.en
dc.contributor.authorIl’ina, M. V.en
dc.contributor.authorIl’in, O. I.en
dc.contributor.authorAgeev, O. A.en
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:04Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:04Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationGuryanov A. V. Investigation of the effect of upper electrode material on the memristor properties of strained carbon nanotubes / A. V. Guryanov, M. V. Il’ina, O. I. Il’in, O. A. Ageev // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 160-161.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79038-
dc.description.sponsorshipThe reported study was funded by RFBR according to the research project No. 16-29-14023 ofi_m.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleInvestigation of the effect of upper electrode material on the memristor properties of strained carbon nanotubesen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage160-
local.description.lastpage161-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_128.pdf271,91 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.