1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79036
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorGreshnyakov, E. D.en
dc.contributor.authorLisjikh, B. I.en
dc.contributor.authorPryakhina, V. I.en
dc.contributor.authorNebogatikov, M. S.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:03Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:03Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationCharged domain walls in lithium tantalate with compositional gradients produced by VTE process / E. D. Greshnyakov, B. I. Lisjikh, V. I. Pryakhina, M. S. Nebogatikov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 158.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79036-
dc.description.sponsorshipThe equipment of Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” Ural Federal University was used. The research was made possible by Russian Science Foundation (Project № 19-12-00210).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//19-12-00210en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleCharged domain walls in lithium tantalate with compositional gradients produced by VTE processen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage158-
local.description.lastpage158-
local.fund.rsf19-12-00210-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_126.pdf156,39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.