Dielectric permittivity enhancement by formation of charged domain walls in stoichiometric lithium niobate

Esin, A. A.; Akhmatkhanov, A. R.; Shur, V. Ya.; Шур, В. Я.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79030

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Esin, A. A.	en
dc.contributor.author	Akhmatkhanov, A. R.	en
dc.contributor.author	Shur, V. Ya.	en
dc.contributor.author	Шур, В. Я.	ru
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:03Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:03Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Esin A. A. Dielectric permittivity enhancement by formation of charged domain walls in stoichiometric lithium niobate / A. A. Esin, A. R. Akhmatkhanov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 151.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79030	-
dc.description.sponsorship	The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used. The research was made possible in part by RFBR (grant 18-32-00641_mol_a).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Dielectric permittivity enhancement by formation of charged domain walls in stoichiometric lithium niobate	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	151	-
local.description.lastpage	151	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_120.pdf		156,35 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.