Domain patterning on non-polar cut lithium niobate by focused ion beam

Chezganov, D. S.; Turygin, A. P.; Vlasov, E. O.; Pashnina, E. A.; Nuraeva, A. S.; Shur, V. Ya.; Шур, В. Я.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79022

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Chezganov, D. S.	en
dc.contributor.author	Turygin, A. P.	en
dc.contributor.author	Vlasov, E. O.	en
dc.contributor.author	Pashnina, E. A.	en
dc.contributor.author	Nuraeva, A. S.	en
dc.contributor.author	Shur, V. Ya.	en
dc.contributor.author	Шур, В. Я.	ru
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:02Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:02Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Domain patterning on non-polar cut lithium niobate by focused ion beam / D. S. Chezganov, A. P. Turygin, E. O. Vlasov, E. A. Pashnina, A. S. Nuraeva, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 143-144.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79022	-
dc.description.sponsorship	The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used. The research was made possible by the Russian Science Foundation (grant № 19-72-00091).	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation	info:eu-repo/grantAgreement/RSF//19-72-00091	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Domain patterning on non-polar cut lithium niobate by focused ion beam	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	143	-
local.description.lastpage	144	-
local.fund.rsf	19-72-00091	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_113.pdf		482,25 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.