ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79013| Название: | Atomic force microscopy of titanium oxide nanosize structures resistive switching |
| Авторы: | Avilov, V. I. Smirnov, V. A. Tominov, R. V. Sharapov, N. A. Avakyan, A. A. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Atomic force microscopy of titanium oxide nanosize structures resistive switching / V. I. Avilov, V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. A. Sharapov, A. A. Avakyan // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 131-132. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79013 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Сведения о поддержке: | This work was supported by RFBR according to the research project № 18-37-00299 and by Grant of the President of the Russian Federation No. MK-2721.2018.8. |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_105.pdf | 338,44 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.