1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79008
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorChuvakova, M. A.en
dc.contributor.authorEsin, A. A.en
dc.contributor.authorShishkina, E. V.en
dc.contributor.authorPelegova, E. V.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:00Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:00Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationPolarization reversal in Rb:KTP and KTA single crystals / A. R. Akhmatkhanov, M. A. Chuvakova, A. A. Esin, E. V. Shishkina, E. V. Pelegova, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 125.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79008-
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used. This research was made possible in part by President of Russian Federation Grant for young scientists (grant No. МК-1217.2019.2).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titlePolarization reversal in Rb:KTP and KTA single crystalsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage125-
local.description.lastpage125-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_100.pdf156,26 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.