ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/73476| Название: | Electromechanical Measurements of Gd-Doped Ceria Thin Films by Laser Interferometry |
| Авторы: | Ushakov, A. D. Yavo, N. Mishuk, E. Lubomirsky, I. Shur, V. Ya. Kholkin, A. L. Шур, В. Я. |
| Дата публикации: | 2016 |
| Издатель: | Knowledge E |
| Библиографическое описание: | Electromechanical Measurements of Gd-Doped Ceria Thin Films by Laser Interferometry / A. D. Ushakov, N. Yavo, E. Mishuk [et al.] // KNE Materials Science. — 2016. — Vol. 2016. — P. 177-182. — DOI: 10.18502/kms.v1i1.582. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/73476 |
| Идентификатор WOS: | 000395106000030 |
| Идентификатор PURE: | 1690197 |
| ISSN: | 2519-1438 |
| DOI: | 10.18502/kms.v1i1.582 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 10.18502-kms.v1i1.582.pdf | 425,33 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.