ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/72271| Название: | Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics |
| Авторы: | Yakushev, M. V. Maiello, P. Raadik, T. Shaw, M. J. Edwards, P. R. Krustok, J. Mudryi, A. V. Forbes, I. Martin, R. W. Якушев, М. В. |
| Дата публикации: | 2014 |
| Библиографическое описание: | Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics / M. V. Yakushev, P. Maiello, T. Raadik [et al.] // Thin Solid Films. — 2014. — Vol. 562. — P. 195-199. — DOI: 10.1016/j.tsf.2014.04.057. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/72271 |
| Идентификатор SCOPUS: | 84901772567 |
| Идентификатор WOS: | 000340658100030 |
| Идентификатор PURE: | 415385 |
| ISSN: | 0040-6090 |
| DOI: | 10.1016/j.tsf.2014.04.057 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 10.1016-j.tsf.2014.04.057.pdf | 1,16 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.