Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/66153
Title: Применение метода сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика для исследования доменной структуры монокристаллов релаксорного сегнетоэлектрика ниобата бария стронция
Authors: Шихова, В. А.
Шур, В. Я.
Пелегов, Д. В.
Иевлев, А. В.
Подольный, С. А.
Болячкин, А. С.
Ивлева, Л. И.
Dec, J.
Issue Date: 2011
Publisher: Уральский государственный университет им. А. М. Горького
Citation: Применение метода сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика для исследования доменной структуры монокристаллов релаксорного сегнетоэлектрика ниобата бария стронция / В. А. Шихова, В. Я. Шур, Д. В. Пелегов, А. В. Иевлев, С. А. Подольный, А. С. Болячкин, Л. И. Ивлева, J. Dec // 2-ая Уральская школа молодых ученых «Современные нанотехнологии. Сканирующая зондовая микроскопия» (19-22 апреля 2011 года, Екатеринбург) : сборник тезисов. — Екатеринбург: УрГУ, 2011. — С. 22.
Keywords: ИССЛЕДОВАНИЯ ДОМЕННОЙ СТРУКТУРЫ МОНОКРИСТАЛЛОВ
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/66153
Conference name: 2-ая Уральская школа молодых ученых «Современные нанотехнологии. Сканирующая зондовая микроскопия»
Conference date: 19.04.2011-22.04.2011
RSCI ID: https://elibrary.ru/item.asp?id=36698546
Sponsorship: Работа выполнена при поддержке РФФИ (10-02-96042-р-урал-а, 10-02-00627-а, 11-02-91066-НЦНИ-а, 11-02-91174-ГФЕН-а); Министерства образования и науки (П870, П1262, 14.740.11.0478, 02.74011.0171).
Origin: 2-ая Уральская школа молодых ученых «Современные нанотехнологии. Сканирующая зондовая микроскопия». — Екатеринбург, 2011
Appears in Collections:Публикации сотрудников

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
07-sh2011.pdf564,84 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.