Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/59615
Title: | Низкочастотная кондуктометрия в определении коллоидно-химических характеристик технических эмульгаторов |
Other Titles: | LOW-FREQUENCY CONDUCTOMETRY IN DETERMINATION OF TECHNICAL EMULSIFIER'S COLLOIDAL-CHEMICAL CHARACTERISTICS |
Authors: | Малыгин, А. В. Шевченко, М. П. Рачинский, А. В. |
Issue Date: | 2008 |
Publisher: | Уральский государственный технический университет |
Citation: | Малыгин А. В. Низкочастотная кондуктометрия в определении коллоидно-химических характеристик технических эмульгаторов / А. В. Малыгин, М. П. Шевченко, А. В. Рачинский // Аналитика и контроль. — 2008. — № 1/2. — С. 20-25. |
Abstract: | Рассматривается возможность использования величины средней молекулярной массы технического эмульгатора, определенной с помощью метода низкочастотного кондуктометрического титрования, для расчета его коллоидно-химических характеристик: поверхностной активности, критической концентрации мицеллообразования (ККМ), кислотного числа. Приводятся экспериментальные данные, полученные с помощью предлагаемой методики на примерах образцов технических эмульгаторов с проанализированным фракционным составом и близкой природы, применяемых в производстве каучуков эмульсионной полимеризации. In work the possibility of use the value of the technical emulsifier's average molecular mass, determined by means of low-frequency conductometry titration method, for calculation its colloidal-chemical characteristics such as surface activity, critical concentration micelle formation (CCM), acidic number is considered. The experimental data, which got with help of proposed methodic on example of technical emulsifiers samples with analysed fraction composition and close nature applying in emulsion polimerization rubber's production are quoted. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/59615 |
Origin: | Аналитика и контроль. 2008. № 1/2 |
Appears in Collections: | Аналитика и контроль |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
aik-2008-12-20.pdf | 996,78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.