Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57592
Title: Высокая информативность прямого атомно-эмиссионного спектрального анализа при применении МАЭС
Authors: Заякина, С. Б.
Аношин, Г. Н.
Левченко, Л. М.
Митькин, В. Н.
Путьмаков, А. Н.
Issue Date: 2004
Publisher: Уральский государственный технический университет
Citation: Высокая информативность прямого атомно-эмиссионного спектрального анализа при применении МАЭС / С. Б. Заякина, Г. Н. Аношин, Л. М. Левченко [и др.] // Аналитика и контроль. — 2004. — № 3. — С. 236-247.
Abstract: Применение в качестве системы регистрации оптической информации многоканальных анализаторов спектров (МАЭС) дает возможность автоматизировать процесс измерения, существенно повысить точность определения примесей. В настоящей работе описаны широкие возможности автоматизированной установки для атомно-эмиссионного анализа геологических проб. Особенность применяемой нами аппаратуры состоит в том, что плазменный факел двухструйного плазматрона расположен на оптической оси двух дифракционных спектрографов: ДФС-8 и ДФС-458. Использование двух спектрографов позволяет одновременно регистрировать разные участки спектра с различным разрешением, исключая наложения от матричных элементов. В работе показаны возможности определения благородных металлов (БМ) и металлов платиновой группы (ЭПГ), а также приведены пределы обнаружения сопутствующих элементов. Чувствительность современных фотодиодов позволяет сократить время экспозиции до нескольких миллисекунд, что позволяет применить сцинтилляционный метод эмиссионного спектрального анализа. Это экспрессный способ определения БМ, ЭПГ и других рудных элементов, находящихся в виде самостоятельных минеральных форм в геологических пробах. Показана возможность применения автоматизированной установки для экологических исследований на примере определения ртути в углеродном сорбенте, используемом для очистки сточных вод производства от токсичных металлов.
The application of multi-channel analyzers of spectra as the systems for registration of optical information gives the possibility to automate the measurement processes and significantly increase the accuracy of trace analysis. In present paper the extensive capabilities of automated device for atomic emission analysis of geological samples is described. The peculiarity of experimental device used is that the plasma of double jet plasmatrone is located at the optical axis of two diffraction spectrographs: DFS-8 and DFS-458. The application of two spectrographs allows us to register various regions of spectra with different resolution simultaneously avoiding matrix interference. In this paper the capabilities of determination of noble metals and platinum metals are shown and detection limits of accompanying elements are presented as well. Sensitivity of modern photodiodos allows us to diminish exposure time to several milliseconds, i.e., to register spectra of an individual particle of a sample. Gold concentration in samples can be estimated from the frequency of flash occurrence. Flash magnitude characterizes particle size and gold content.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57592
Origin: Аналитика и контроль. 2004. № 3
Appears in Collections:Аналитика и контроль

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
aik-2004-03-05.pdf1,69 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.