Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57253
Title: Интегральные коэффициенты прохождения электронов сквозь тонкие пленки
Authors: Королюк, В. Н.
Усова, Л. В.
Issue Date: 2002
Publisher: Уральский государственный технический университет
Citation: Королюк В. Н. Интегральные коэффициенты прохождения электронов сквозь тонкие пленки / В. Н. Королюк, Л. В. Усова // Аналитика и контроль. — 2002. — № 4. — С. 353-359.
Abstract: Из экспериментальных данных Вятскина и др. по прострелу киловольтными электронами тонких пленок отдельных металлов получено общее выражение для интегральных коэффициентов прохождения электронов сквозь вещество и дано его сравнение с известными формулами. Показана связь коэффициентов прохождения электронов с φ(ρz) - функцией распределений плотности числа ионизации электронных оболочек атомов по глубине мишени.
Basing on the experimental data of Vyatskin et al. on the bombardment of thin films by kilovolt electrons we have obtained a general expression for integral transmission coefficients of electrons through the matter and compared it with known formulae. We have shown the relation of the electron transmission coefficient with φ(ρz) - function of distribution of the density of the number of ionization of electron level of target atoms throughout depth of sample.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/57253
Origin: Аналитика и контроль. 2002. № 4
Appears in Collections:Аналитика и контроль

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
aik-2002-04-03.pdf4,84 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.