ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence | 295 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Electron microscopic imaging of an ion beam mixed SiO 2/Si interface correlated with photo- and cathodoluminescence | 7 | 3 | 3 | 4 | 4 | 2 | 2 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 10.1002-pssa.201127617.pdf | 276 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 202 |
| Россия | 44 |
| Германия | 11 |
| Китай | 9 |
| Франция | 4 |
| Соединенное Королевство | 4 |
| Австралия | 3 |
| Швеция | 3 |
| Вьетнам | 3 |
| Армения | 2 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Ashburn | 143 |
| Moscow | 24 |
| Houston | 6 |
| Cambridge | 5 |
| Nanjing | 2 |
| St Petersburg | 2 |
| Balashikha | 1 |
| Des Moines | 1 |
| Hebei | 1 |
| Jiaxing | 1 |