Особенности методик анализа геологических образцов с использованием рентгенофлуоресцентных спектрометров с полным внешним отражением (TXRF)

Abstract

В обзоре рассмотрены особенности применения рентгенофлуоресцентного метода анализа с полным внешним отражением (TXRF) для исследования геологических образцов. Кратко обсуждены исторические этапы развития метода TXRF, представляющего в настоящее время универсальный способ определения содержаний следов элементов в образцах различного типа (жидкости, порошки). Для получения количественных данных используются простые приёмы градуирования. Рассмотрены примеры применения TXRF в различных областях исследования. Основное внимание в обзоре уделено возможностям исследования с помощью TXRF порошковых проб.

This paper presents special features of application of total reflection X-ray fluorescence method (TXRF) to the investigation of geological samples. The historical stages of this version development are briefly discussed. At present TXRF is the versatile technique for determining contents of element traces in samples of various types. Both liquids and powdered samples are analyzed. It is very easy to prepare an emitter from liquid sample. 5-50 μl of a sample under study is placed on a carrier and dried. The carrier is usually made of pure quartz or acrylic glass. Powdered samples are prepared as a suspension. This publication is the extended text of the report at the conference. In literature one can find the great number of examples of the TXRF application in different fields of investigation. However the TXRF application is mentioned quite rare when deciding geological problems. Main attention is given to possibilities for the investigation of powdered samples using TXRF.