Сравнение аналитических возможностей комбинированных методик анализа высокочистых веществ с возбуждением излучения в дуге постоянного тока и индуктивно связанной плазме

Abstract

Проведено сравнение аналитических возможностей комбинированных ДПТ-АЭС (атомно-эмиссионная спектрометрия с дугой постоянного тока) и ИСП-АЭС (атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой) методик анализа высокочистых кремния и оксида висмута с концентрированием примесей отгонкой основы пробы по набору определяемых примесей и пределам их обнаружения. Показаны преимущества и основные ограничения каждой из методик.

Comparison of analytical capabilities of hybrid ICP-AES and DCA-AES methods as exemplified by the techniques analysis of high-purity silicon and bismuth oxide following with matrix pre-distillation has been made. The advantages and base limitations of both methods to the set of analytes and detection limits have been show.