Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10995/42590
Title: Сравнение аналитических возможностей комбинированных методик анализа высокочистых веществ с возбуждением излучения в дуге постоянного тока и индуктивно связанной плазме
Other Titles: The comparison of analytical possibilities of combined methods for analysis of high-purity substances by direct current arc and inductivity coupled plasma methods
Authors: Цыганкова, А. Р.
Шаверина, А. В.
Шелпакова, И. Р.
Сапрыкин, А. И.
Tsygankova, A. R.
Shaverina, A. V.
Shelpakova, I. R.
Saprykin, A. I.
Issue Date: 2012
Publisher: Уральский федеральный университет
Citation: Сравнение аналитических возможностей комбинированных методик анализа высокочистых веществ с возбуждением излучения в дуге постоянного тока и индуктивно связанной плазме / А. Р. Цыганкова, А. В. Шаверина, И. Р. Шелпакова [и др.] // Аналитика и контроль. — 2012. — № 4. — С. 420-424.
Abstract: Проведено сравнение аналитических возможностей комбинированных ДПТ-АЭС (атомно-эмиссионная спектрометрия с дугой постоянного тока) и ИСП-АЭС (атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой) методик анализа высокочистых кремния и оксида висмута с концентрированием примесей отгонкой основы пробы по набору определяемых примесей и пределам их обнаружения. Показаны преимущества и основные ограничения каждой из методик.
Comparison of analytical capabilities of hybrid ICP-AES and DCA-AES methods as exemplified by the techniques analysis of high-purity silicon and bismuth oxide following with matrix pre-distillation has been made. The advantages and base limitations of both methods to the set of analytes and detection limits have been show.
Keywords: ATOMIC EMISSION SPECTRAL ANALYSIS
INDUCTIVELY COUPLED PLASMA
ARC DC
CONCENTRATION OF IMPURITIES
THE DETECTION LIMITS OF IMPURITIES
АТОМНО-ЭМИССИОННЫЙ СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
ИНДУКТИВНО СВЯЗАННАЯ ПЛАЗМА
ДУГА ПОСТОЯННОГО ТОКА
КОНЦЕНТРИРОВАНИЕ ПРИМЕСЕЙ
ПРЕДЕЛЫ ОБНАРУЖЕНИЯ ПРИМЕСЕЙ
URI: http://hdl.handle.net/10995/42590
https://elar.urfu.ru/handle/10995/42590
ISSN: 2073-1442
Origin: Аналитика и контроль. 2012. № 4
Appears in Collections:Аналитика и контроль

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
aik_2012_04_420-424.pdf207,28 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.