О соотношении интенсивностей различных порядков отражения в рентгеновских спектрах при регистрации на электронно-зондовых микроанализаторах

Abstract

Измерена относительная интенсивность различных порядков отражения рентгеновских линий при регистрации на электронно-зондовом микроанализаторе JXA-8100 с помощью типовых кристаллов-анализаторов: LiF, РЕТ, TAP, LDE1, LDE2. Отмечена специфика спектрометров с изогнутым кристаллом «на отражение», сказывающаяся на величине высоких порядков. Интенсивность второго порядка отражения на разных анализаторах довольно близка и находится в диапазоне от 2.4 (PET) до 5.6 % (LiF) относительно интенсивности первого порядка. Отражение в более высоких порядках значительно разнообразнее. Так, например, для анализатора LDE2 вообще не зафиксировано линий с порядком отражения выше второго, а для кристалла TAP обнаружены отражения вплоть до 8-го порядка. В целом, полученные данные могут служить справочным материалом при предварительной оценке возможных наложений.

Relative intensities of X-ray lines for various reflection orders are measured using a JXA-8100 microprobe analyzer. Spectra obtained using standard analyzing crystals LiF, РЕТ, TAP, LDE1 and LDE2 are studied. We observe and explain specific features of spectrometers with curved analyzing crystals that influence higher order reflections. The second order intensities are similar for different analyzing crystals and lie in the range 2.4 (PET) - 5.6 % (LiF) of the first order intensity. Higher orders reflection show more variation. For example, for the LDE2 crystal no lines of higher than the second order were observed, while for TAP reflections of up to 8th order were detected. The data obtained may be used for reference purposes.