1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/27513
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSadovnikov, S. I.en
dc.contributor.authorKozhevnikova, N. S.en
dc.contributor.authorRempel, A. A.en
dc.contributor.authorMagerl, A.en
dc.date.accessioned2014-11-29T19:47:52Z-
dc.date.available2014-11-29T19:47:52Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationThermal expansion of a lead sulfide nanofilm / S. I. Sadovnikov, N. S. Kozhevnikova, A. A. Rempel [et al.] // Thin Solid Films. — 2013. — Vol. 548. — P. 230-234.en
dc.identifier.issn0040-6090-
dc.identifier.other1good_DOI
dc.identifier.othercd9280e9-791c-481e-98f1-fefe84f3bed9pure_uuid
dc.identifier.otherhttp://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=8YFLogxK&scp=84887502077m
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/27513-
dc.description.abstractThe thermal expansion of a lead sulfide nanofilm produced by chemical bath deposition was determined by X-ray diffraction (XRD). The thickness of the synthesized film was about 100 nm, and the average size of the coherent scattering regions as determined from XRD was about 40 nm. The lattice constant of the PbS nanofilm was measured as a function of the annealing temperature from 293 to 473 K and as a function of the annealing time at a constant temperature of 423 K. The thermal expansion coefficient derived was found almost twice as large as that for coarse-grained PbS. © 2013 Elsevier B.V. All rights reserved. All rights reserved.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.sourceThin Solid Filmsen
dc.subjectLEAD SULFIDEen
dc.subjectTHERMAL EXPANSIONen
dc.subjectTHIN FILMSen
dc.subjectX-RAY DIFFRACTIONen
dc.subjectANNEALING TEMPERATURESen
dc.subjectANNEALING TIMEen
dc.subjectCHEMICAL-BATH DEPOSITIONen
dc.subjectCOARSE-GRAINEDen
dc.subjectCOHERENT SCATTERING REGIONen
dc.subjectCONSTANT TEMPERATUREen
dc.subjectLEAD SULFIDEen
dc.subjectTHERMAL EXPANSION COEFFICIENTSen
dc.subjectTHIN FILMSen
dc.subjectX RAY DIFFRACTIONen
dc.subjectTHERMAL EXPANSIONen
dc.titleThermal expansion of a lead sulfide nanofilmen
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dc.identifier.doi10.1016/j.tsf.2013.09.079-
dc.identifier.scopus84887502077-
local.affiliationInstitute of Solid State Chemistry, Ural Branch of the Russian Academy of Sciences, Pervomaiskaya 91, Ekaterinburg 620990, Russian Federationen
local.affiliationUral Federal University, Mira 19, Ekaterinburg 620002, Russian Federationen
local.affiliationKristallographie und Strukturphysik, Universitдt Erlangen-Nьrnberg, Staudtstr.3, Erlangen 91058, Germanyen
local.contributor.employeeКожевникова Наталья Сергеевнаru
local.contributor.employeeРемпель Андрей Андреевичru
local.description.firstpage230-
local.description.lastpage234-
local.volume548-
dc.identifier.wos000327530300036-
local.contributor.departmentИнститут естественных наук и математикиru
local.contributor.departmentФизико-технологический институтru
local.identifier.pure836307-
local.identifier.eid2-s2.0-84887502077-
local.identifier.wosWOS:000327530300036-
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
scopus-2013-0659.pdf1,23 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.