Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/26773
Название: | Localization of charge carriers in layered crystals MexTiSe 2 (Me = Cr, Mn, Cu) studied by the resonant photoemission |
Авторы: | Yarmoshenko, Y. M. Shkvarin, A. S. Yablonskikh, M. V. Merentsov, A. I. Titov, A. N. |
Дата публикации: | 2013 |
Библиографическое описание: | Localization of charge carriers in layered crystals MexTiSe 2 (Me = Cr, Mn, Cu) studied by the resonant photoemission / Y. M. Yarmoshenko, A. S. Shkvarin, M. V. Yablonskikh [et al.] // Journal of Applied Physics. — 2013. — Vol. 114. — № 13. |
Аннотация: | The probability of charge transfer in layered titanium diselenide between monolayers containing Cr, Mn, and Cu with different concentrations and host lattice TiSe2 is estimated according to the resonant photoemission data. For this purpose, the Raman-Auger contributions and narrow bands just below the Fermi energy were separated in the valence band spectra. These contributions provide the information about charge transfer. It is shown that the localization of the 3d electrons is typical for Cr and Cu atoms and strongly depends on theirs concentration. In MnxTiSe2, Mn 3d electrons are delocalized and the probability of the charge transfer is the greatest as compared with other compounds under investigation. © 2013 AIP Publishing LLC. |
Ключевые слова: | 3D ELECTRON CU ATOMS HOST LATTICE LAYERED CRYSTALS NARROW BANDS RESONANT PHOTOEMISSION TITANIUM DISELENIDE VALENCE BAND SPECTRA CHARGE TRANSFER SELENIUM COMPOUNDS THREE DIMENSIONAL MANGANESE |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/26773 |
Идентификатор SCOPUS: | 84885457078 |
Идентификатор WOS: | 000325488700021 |
Идентификатор PURE: | 858151 |
ISSN: | 0021-8979 1089-7550 |
DOI: | 10.1063/1.4824060 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
scopus-2013-0120.pdf | 461,87 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.