Программа для расчета карт распределения амплитуды и фазы локальных колебаний поверхности сегнетоэлектрика из параметров, получаемых методом визуализации доменной структуры на двух частотах

Abstract

Программа предназначена для расчета параметров локальных колебаний поверхности сегнетоэлектрика из параметров, получаемых методом визуализации доменной структуры приложением напряжения на двух частотах к зонду сканирующего зондового микроскопа (СЗМ). В программе производится математическая обработка исходных сигналов, регистрируемых c помощью СЗМ. Входные данные: карты распределения амплитуды и фазы отклика на двух возбуждающих частотах и «резонансной» частоты (GWY файл). Электромеханический резонанс в СЗМ имеет форму, которая может быть восстановлена по отклику на двух частотах: немного больше и немного меньше резонансной частоты. В результате работы программы создается GWY файл, содержащий карты амплитуды и фазы реального отклика поверхности и карту распределения добротности контактного резонанса. Работа выполнена с использованием Уральского ЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ. Тип ЭВМ: ПК. ОС: Linux, macOS, Windows 8/10/11.