Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/125316
Название: | Эффект обменного смещения в плёнках типа FeMn/FeNi: эксперимент и микромагнитное моделирование |
Другие названия: | Exchange Bias Effect in FeMn/FeNi films: Experiment and Micromagnetic Simulation |
Авторы: | Bykova, A. A. Gorkovenko, A. N. Kulesh, N. A. Vas”kovski, V. O. Быкова, А. А. Горьковенко, А. Н. Кулеш, Н. А. Васьковский, В. О. |
Дата публикации: | 2022 |
Издатель: | УрФУ |
Библиографическое описание: | Эффект обменного смещения в плёнках типа FeMn/FeNi: эксперимент и микромагнитное моделирование / А. А. Быкова, А. Н. Горьковенко, Н. А. Кулеш, В. О. Васьковский. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 153-155. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/125316. |
Аннотация: | Temperature dependencies of exchange bias field in FeNi/FeMn(L)/FeNi films with different thicknesses (L) of antiferromagnetic FeMn layers are investigated in two variants fields, namely «positive» field, and «negative» field. Our results show exchange bias effect depends on the cooling field. Exper. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/125316 |
Конференция/семинар: | IX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина ФТИ-2022 |
Дата конференции/семинара: | 16.05.2022-20.05.2022 |
Сведения о поддержке: | Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации, тема № FEUZ-2020-0051. |
Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022 |
Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
fti_2022_9_049.pdf | 325,95 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.