Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124962
Title: Система диагностики пучков многозарядных ионов (МЗИ)
Other Titles: HCI Beam Diagnostics System
Authors: Fofanov, A. S.
Schmidbersky, P. A.
Schmidberskaya, A. A.
Фофанов, А. С.
Шмидберский, П. А.
Шмидберская, А. А.
Issue Date: 2022
Publisher: УрФУ
Citation: Фофанов А. С. Система диагностики пучков многозарядных ионов (МЗИ) / А. С. Фофанов, П. А. Шмидберский, А. А. Шмидберская. — Текст: электронный // Физика. Технологии. Инновации. ФТИ-2022 : тезисы докладов IX Международной молодежной научной конференции, посвященной 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина, Екатеринбург, 16-20 мая 2022 г. — Екатеринбург: УрФУ, 2022. — С. 399-400. — URL: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124962.
Abstract: The aim of this work is a high-precision measure of HCI beams parameters, taking into account the processes occurring on the sensors during the interaction of their surface with the HCI. To achieve this goal, we developed a diagnostic complex allowing to measure the parameters of HCI beams.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124962
Conference name: IX Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященная 100-летию со дня рождения профессора С. П. Распопина
ФТИ-2022
Conference date: 16.05.2022-20.05.2022
Origin: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2022). — Екатеринбург, 2022
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fti_2022_9_170.pdf183,79 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.