ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/124167| Название: | ВЛИЯНИЕ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ НА СТРУКТУРУ И КОЭФФИЦИЕНТ ТЕРМОЭДС ПЛЕНОК (In2O3/SiO2)25 |
| Другие названия: | EFFECT OF HEAT TREATMENT ON THE STRUCTURE AND COEFFICIENT OF THERMAL EMF OF FILMS |
| Авторы: | Chetverikova, A. P. Pankov, S. Yu. Zaitsev, R. A. Kashirin, M. A. Четверикова, А. П. Панков, С. Ю. Зайцев, Р. А. Каширин, М. А. |
| Дата публикации: | 2021 |
| Издатель: | УрФУ |
| Библиографическое описание: | ВЛИЯНИЕ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ НА СТРУКТУРУ И КОЭФФИЦИЕНТ ТЕРМОЭДС ПЛЕНОК (In2O3/SiO2)25 / А. П. Четверикова, С. Ю. Панков, Р. А. Зайцев, М. А. Каширин // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VIII Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 17–21 мая 2021 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2021. — C. 757. |
| Аннотация: | The electrical properties of thin films (In2O3/SiO2)25 and their stability under high-tem-perature treatment are investigated. The value of the thermal emf coefficient after a series of annealing is stabilized and corresponds to the values for the electrodes of chromel-alumel thermocouples. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/124167 |
| Конференция/семинар: | VIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
| Дата конференции/семинара: | 17.05.2021-21.05.2021 |
| ISBN: | 978-5-8295-0769-5 |
| Сведения о поддержке: | Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках государственного задания (проект №FZGM-2020-0007). |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2021) |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-8295-0769-5_2021_397.pdf | 256,8 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.