Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124167
Title: ВЛИЯНИЕ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ НА СТРУКТУРУ И КОЭФФИЦИЕНТ ТЕРМОЭДС ПЛЕНОК (In2O3/SiO2)25
Other Titles: EFFECT OF HEAT TREATMENT ON THE STRUCTURE AND COEFFICIENT OF THERMAL EMF OF FILMS
Authors: Chetverikova, A. P.
Pankov, S. Yu.
Zaitsev, R. A.
Kashirin, M. A.
Четверикова, А. П.
Панков, С. Ю.
Зайцев, Р. А.
Каширин, М. А.
Issue Date: 2021
Publisher: УрФУ
Citation: ВЛИЯНИЕ ТЕРМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ НА СТРУКТУРУ И КОЭФФИЦИЕНТ ТЕРМОЭДС ПЛЕНОК (In2O3/SiO2)25 / А. П. Четверикова, С. Ю. Панков, Р. А. Зайцев, М. А. Каширин // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VIII Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 17–21 мая 2021 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2021. — C. 757.
Abstract: The electrical properties of thin films (In2O3/SiO2)25 and their stability under high-tem-perature treatment are investigated. The value of the thermal emf coefficient after a series of annealing is stabilized and corresponds to the values for the electrodes of chromel-alumel thermocouples.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/124167
Conference name: VIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»
Conference date: 17.05.2021-21.05.2021
ISBN: 978-5-8295-0769-5
metadata.dc.description.sponsorship: Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках государственного задания (проект №FZGM-2020-0007).
Origin: Физика. Технологии. Инновации. Тезисы докладов (ФТИ-2021)
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-8295-0769-5_2021_397.pdf256,8 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.