Применение сканирующей электронной микроскопии и метод дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM) для исследования деформаций в зернах циркона

Давлетшина, А. А.; Замятин, Д. А.; Ковалева, Е. И.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/113330

Title:	Применение сканирующей электронной микроскопии и метод дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM) для исследования деформаций в зернах циркона
Authors:	Давлетшина, А. А. Замятин, Д. А. Ковалева, Е. И.
Issue Date:	2022
Publisher:	Издательство Уральского университета
Citation:	Давлетшина А. А. Применение сканирующей электронной микроскопии и метод дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM) для исследования деформаций в зернах циркона / А. А. Давлетшина, Д. А. Замятин, Е. И. Ковалева // XXXI Зимняя школа по химии твердого тела : материалы (Екатеринбург, 9–11 февраля 2022 г.). — Екатеринбург : Издательство Уральского университета, 2022. — С. 47-50.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/113330
Conference name:	XXXI Зимняя школа по химии твердого тела
Conference date:	09.02.2022–11.02.2022
ISBN:	978-5-7996-3455-1
metadata.dc.description.sponsorship:	Работа выполнена в ЦКП УрО РАН «Геоаналитик» и поддержана Российским научным фондом, проект №21-77-10019, https://rscf.ru/project/21-77-10019/.
Origin:	XXXI Зимняя школа по химии твердого тела. — Екатеринбург, 2022
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-7996-3455-1_2022_016.pdf		344,54 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar